1. Fundamentals of nanoscale film analysis
المؤلف: /TerryL.Alford,Leonard C.Feldman,James W.Mayer,آلفورد,Alford
المکتبة: سازمان اسناد و كتابخانه ملی جمهوری اسلامی ایران (طهران)
موضوع: لایههای نازک,مواد نانو ساختار
رده :
QC
۱۷۶
/
۸۳
/
آ
۷
ف
۲ ۱۳۸۶
2. پراکندگي اشعه ايکس از
المؤلف: / مولف: اولريش پيچ، هولي واتسلاف، تيلو باومباخ,عنوان اصلي: High - resolution X-ray scattering: from thin films to lateral nanostructures,پيچ,Pietsch
المکتبة: كتابخانه مركزي آستان قدس رضوي (ع) - تالار قفسه باز بانوان (خراسان رضوی)
موضوع: لايه‌هاي نازک -- خواص نوري,اشعه ايکس -- پراکندگي,مواد نانو ساختار
رده :
۵۳۰
/
۴۱۷۵
پ
۸۷۸
پ
3. پراکندگي اشعه ايکس از
المؤلف: / مولف: اولريش پيچ، هولي واتسلاف، تيلو باومباخ,عنوان اصلي: High - resolution X-ray scattering: from thin films to lateral nanostructures,پيچ,Pietsch
المکتبة: (خراسان رضوی)
موضوع: لايه‌هاي نازک -- خواص نوري,اشعه ايکس -- پراکندگي,مواد نانو ساختار
رده :
۵۳۰
/
۴۱۷۵
پ
۸۷۸
پ
4. پراکندگي اشعه ايکس از
المؤلف: / مولف: اولريش پيچ، هولي واتسلاف، تيلو باومباخ,عنوان اصلي: High - resolution X-ray scattering: from thin films to lateral nanostructures,پيچ,Pietsch
المکتبة: كتابخانه جواد الائمه (ع) (آستان قدس رضوی ع) (کرمان)
موضوع: لايه‌هاي نازک -- خواص نوري,اشعه ايکس -- پراکندگي,مواد نانو ساختار
رده :
۵۳۰
/
۴۱۷۵
پ
۸۷۸
پ
5. پراکندگي اشعه ايکس از
المؤلف: / مولف: اولريش پيچ، هولي واتسلاف، تيلو باومباخ,عنوان اصلي: High - resolution X-ray scattering: from thin films to lateral nanostructures,پيچ,Pietsch
المکتبة: كتابخانه مركزي آستان قدس رضوي (ع) - گردش و امانت آقايان (خراسان رضوی)
موضوع: لايه‌هاي نازک -- خواص نوري,اشعه ايکس -- پراکندگي,مواد نانو ساختار
رده :
۵۳۰
/
۴۱۷۵
پ
۸۷۸
پ
6. پراکندگي اشعه ايکس از
المؤلف: / مولف: اولريش پيچ، هولي واتسلاف، تيلو باومباخ,عنوان اصلي: High - resolution X-ray scattering: from thin films to lateral nanostructures,پيچ,Pietsch
المکتبة: كتابخانه مركزي آستان قدس رضوي (ع) - تالار قفسه باز آقايان (خراسان رضوی)
موضوع: لايه‌هاي نازک -- خواص نوري,اشعه ايکس -- پراکندگي,مواد نانو ساختار
رده :
۵۳۰
/
۴۱۷۵
پ
۸۷۸
پ
7. پراکندگي اشعه ايکس از
المؤلف: / مولف: اولريش پيچ، هولي واتسلاف، تيلو باومباخ,عنوان اصلي: High - resolution X-ray scattering: from thin films to lateral nanostructures,پيچ,Pietsch
المکتبة: مكتبة الامام الرضا (ع) (أستان القدس الرضوية) (خراسان رضوی)
موضوع: لايه‌هاي نازک -- خواص نوري,اشعه ايکس -- پراکندگي,مواد نانو ساختار
رده :
۵۳۰
/
۴۱۷۵
پ
۸۷۸
پ
8. پراکندگي اشعه ايکس از
المؤلف: / مولف: اولريش پيچ، هولي واتسلاف، تيلو باومباخ,عنوان اصلي: High - resolution X-ray scattering: from thin films to lateral nanostructures,پيچ,Pietsch
المکتبة: مکتبه الامام الرضا (ع) "سبزوار" (آستان القدس الرضوية) (خراسان رضوی)
موضوع: لايه‌هاي نازک -- خواص نوري,اشعه ايکس -- پراکندگي,مواد نانو ساختار
رده :
۵۳۰
/
۴۱۷۵
پ
۸۷۸
پ
9. پراکندگي اشعه ايکس از
المؤلف: / مولف: اولريش پيچ، هولي واتسلاف، تيلو باومباخ,عنوان اصلي: High - resolution X-ray scattering: from thin films to lateral nanostructures,پيچ,Pietsch
المکتبة: كتابخانه مركزي آستان قدس رضوي (ع) - گردش و امانت بانوان (خراسان رضوی)
موضوع: لايه‌هاي نازک -- خواص نوري,اشعه ايکس -- پراکندگي,مواد نانو ساختار
رده :
۵۳۰
/
۴۱۷۵
پ
۸۷۸
پ
10. پراکندگی اشعه ایکس از: نانو سا‌ختا‌رها‌ی سطحی
المؤلف: پیچ، اولریش Pietsch, Ullrich ۱۹۵۲ - م
المکتبة: المکتبه المرکزيه ومرکز التوثیق بجامعة الشهید باهنر فی کرمان (کرمان)
موضوع: لایههای نازک - خواص نوری,اشعه ایکس - پراکندگی,مواد نانو ساختار
رده :
QC
۱۷۶
/
۸۴
/
خ
۹
پ
۹
11. پراکندگی اشعه ایکس از نانو سا‌ختا‌رها‌ی سطحی
المؤلف: پیچ، اولریش، ۱۹۵۲ - م.
المکتبة: کتابخانه کوثر دانشگاه قم (قم)
موضوع: خواص نوری لایههای نازک,پراکندگی اشعه ایکس,مواد نانو ساختار
رده :
QC
۱۷۶
/
۸۴
/
خ
۹
پ
۹ ۱۳۹۱
